老化試驗箱是針對高性能電子產品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產品，電源供應器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設備，廣泛應用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領域。

目前，研究高分子材料的老化試驗方法有很多，主要包括氣候老化試驗，紫外老化試驗，臭氧老化試驗，熱空氣老化試驗，高低溫交變老化試驗，濕熱老化試驗，介質老化試驗，鹽霧老化試驗等。本文主要介紹氣候老化試驗。

所謂氣候老化試驗就是將高分子材料試驗樣品暴露于大氣環(huán)境條件下，從而獲得材料樣品在大氣環(huán)境暴露下的老化規(guī)律，對高分子材料的性能進行分析，并預測其使用壽命的一種研究方法。

氣候老化試驗又可以分為兩種：

其中一種便是自然暴露試驗，即將高分子材料試驗樣品暴露于真實的大氣環(huán)境下，以獲得材料在真實環(huán)境下的老化行為，這種老化試驗方法所獲得的老化信息更為準確，是獲得高分子材料老化行為的最為有效的方法，但是這種試驗方法周期時間太長，費時費力。在美國的佛羅里達州、中國的萬寧、漠河以及武漢等地都有人進行過為期超過一年的大氣暴露試驗。
 

另外一種便是人工氣候老化試驗，人工氣候老化試驗即是指人通過在室內對真實大氣環(huán)境條件進行模擬或者是加強某一環(huán)境因素以在短時間內獲得材料老化行為的老化試驗方法，這又被稱為人工模擬老化或者人工加速老化。人工氣候老化通常是在人工氣候老化箱內進行的。通常使用的人工氣候老化箱主要有氙燈氣候老化老化箱、熒光燈氣候老化試驗箱以及碳弧燈氣候老化試驗箱等。這幾種氣候老化試驗箱都是從光照、溫度、濕度、雨水或者凝露等主要氣候因素對自然環(huán)境因素進行模擬或加強而實現材料老化的。此外，材料的老化試驗還要依據一定的測試標準進行開展。